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MPA FT-NIR

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MPA FT-NIR

為質(zhì)量保證和方法發(fā)展而設(shè)計的堅固的近紅外光譜儀。該系統(tǒng)配備了一個內(nèi)部抽樣隔間,用于傳輸測量。Mpa可以通過附加的取樣附件升級,如光纖探針、積分球、外部傳輸單元、自動取樣輪和樣品轉(zhuǎn)子。為了控制光譜儀的光學(xué)和信號處理,需要一個基于 pc 的數(shù)據(jù)系統(tǒng)。

特點(diǎn):

外殼: 堅固、密封和干燥的外殼。

干涉儀:堅固,垂直,不受沖擊影響,高穩(wěn)定性,鍍金的角反射鏡和無磨損軸承,專有的石英涂層分束器:

近紅外光源:風(fēng)冷近紅外光源(12v,20w)

樣品艙/光纖組件

探測器:高精度熱電制冷InGaas 探測器

光譜范圍:12,800 - 4,000 cm-1

外部傳輸裝置:

探測器:高靈敏度 ingaas 探測器,可選配 si 探測器

光譜范圍:12,800 - 5,800 cm-1,和15,500 - 9,000 cm-1


參數(shù):

分辨率: 2 cm-1

波數(shù)重現(xiàn)性:好于 0.04 cm-1

波數(shù)精度:好于0.1 cm-1

光度精度:好于0.1% T

光度線性:優(yōu)于1.00 ± 0.05(斜率) ; 0.00 ± 0.05(偏移)



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